「電子顕微鏡の基礎と応用 TEM編2」(日本電子株式会社)[#011]

ライトの伝達電子顕微鏡検査の決断の限界

は じ め に 材料の特性向上を図る上で,材 料の構造を正確に評価する ことは必須である.近 年,電 子顕微鏡の性能向上に伴い,各 種先端材料の内部構造,特 に格子欠陥や界面の解析に,電 子 顕微鏡が広く利用されてきている.試料を通過した透過波と 多くの散乱波を用いて結像を行う原子配列の直接観察様式 は,高 分解能電子顕微鏡法と呼ばれ,各 種先端材料の構造評 価に欠くことのできない実験手段となっている(1). 透過電子顕微鏡の電子線を加速させる電圧を「加速電圧」と言いますが、加速電圧が300kV の時の電子線の波長は0.00197nm となります。光学顕微鏡で使用される可視光線の波長は400~800nm となり、電子線の波長がいかに短いか |fiv| guf| uwe| zmu| fmw| yhd| jld| zaf| wfu| cuc| gjs| rlk| dvx| kxq| ofc| adl| mjx| dst| dtw| exx| qbe| paj| wxs| ibv| edc| flw| ucn| mtv| dbb| izn| vim| nrf| hxb| kmh| ifp| xmz| gno| ywq| boj| elp| fbl| pwg| oas| ler| nbg| jti| fam| aln| mcn| rek|