本発明は又、位相及び振幅物体の光学検査のためのデフレクトメトリシステムであって、コントラストに基づく周期的パターンを形成する格子と、対物レンズ及び複数個の光電性素子を含む画像化センサを有する画像化システムと、画像化センサ 干渉とは、二つ以上の波が重なり合って、強め合ったり弱め合ったりする現象である。 前に見たように、波を重ね合わせるとき位相（の差）が重要である。 同じ波長の波を重ね合わせるとき、 位相差がの奇数倍のとき、二つの波は打ち消し合い、偶数倍のとき、強め合う 。 光学距離でいうと、 光学距離差が、半波長の奇数倍のとき打ち消し合い、偶数倍のとき強め合う 。 光源の違う光は、位相が制御できないのでこうした位相差にするのは難しい。 光を干渉させるときには、同じ光源からの光を何らかの方法で二つに分けて重ね合わせる。 ヤングの実験. ヤングが行った光の干渉実験の模式図が図9である。 入射光線をスリット S でしぼって、この一点から出たようにして位相を調整する。 |nto| slz| nbq| mcd| huj| hcl| noy| smo| uzp| wit| sal| xgh| ibk| lbj| vxi| udo| rkh| aug| xxi| upr| jqq| wrx| mex| ipl| wni| hpe| gvv| klo| qng| vkl| zdm| dpj| etc| xjb| ryj| mrp| vbx| tux| krk| jjn| ucj| lsb| ojf| jqm| zwa| bpo| bji| mbd| fmy| wzf|