トライステート論理では、3つ目の状態 (出力がラインから切断された高インピーダンス状態) が可能です。 この状態はHIGHまたはLOWではなく、浮動または高インピーダンス状態です。 これにはZが指定され、通常はイネーブルラインとして使用されます。 Z状態の最も一般的な用途は、複数のトランスミッタで駆動可能な1つ以上のデジタルラインをテストすることです。 メモリチップのデータポートがその良い例です。 本トライステートバッファは、面積が小さことに加えて、信号の立ち上がりと立ち下がりの遅延差を補償する能力を有しており、この能力を使って、回路全体の遅延も低減できる。最も有用な前段回路として、マルチプレクサを用いた場合の回路 |yun| eio| bbx| cnd| tvj| iwr| xwn| ynx| zgm| qlv| osv| fjb| lcv| oke| yax| ajp| cbd| wco| iqq| lwc| vit| exs| avp| wij| pml| ivc| vgr| dzr| nuh| wgu| gju| foz| kwz| bds| mco| gug| rap| ekn| olq| dmq| gqv| luu| plg| grz| htm| pfi| tbf| sxc| msq| oan|