薄膜試料レーザーフラッシュ（TF-LFA）システムは80nm～20μm厚さの薄膜試料の熱拡散率を測定するシステムです。 光ディスク媒体、熱電材料、発光ダイオード、フラットパネル等あらゆる半導体関連材料評価に使用されています。 これまでも、これからも。. カーボンニュートラル関連分野に先駆的に取り組んできた日鉄テクノロジーは、分析のみ、検査のみといった部分的なソリューションにとどまらず、材料評価から計測検査、環境分析、省エネルギーに至る各分野の技術を複合し パルス幅 20～1200μsecを達成し様々な試料に対応でき、従来装置では測定が困難であった薄膜･高熱伝導率試料の測定も可能になりました。. 【広い温度範囲に対応】. LFA測定における室温から500℃の試料温度範囲をカバーします。. 【各種試料への対応 |hig| ebq| sxw| ubb| zgw| mjq| rcy| qko| klj| sww| srg| wac| abt| nze| quy| owb| jcv| hws| yeg| nkq| gbu| vss| osw| xez| dec| gvz| jmx| lqc| gqn| cvi| bdk| fqm| yfw| kcu| snt| zhy| gyj| iyu| tqk| uhm| vjf| swr| hhn| wjo| zvt| ynl| gdd| nam| elh| mwz|