要 旨 収束電子回折（Convergent-beam electron diffraction: CBED）法は，円錐状に収束した電子線を試料に入射し，ナノメーター程度の 微小領域から回折図形を得る方法である．通常の制限視野電子回折では得られない，試料厚さ，結晶の対称性，格子定数・歪み， クト集合を考えずとも,X の各点xを中心とする,とある小さい閉円板上で一様収束することを示せばよろしい.さて重要なのは「連続性の遺伝」に関する次の2つの結果だ. 問題57連続性は一様収束で遺伝する性質であることを示せ. 問題58 X が局所コンパクト位相空間(T2 は仮定しない)であるとき,連続性は広義一様収束で遺伝することを示せ. 実は正則性も遺伝するのだが,これは後日やるMoreraの定理の系として出る.この事実も正則性が実関数の微分可能性よりも,もっと強い性質であることを示している. 1. 4.2 関数論再開. : 解析関数, CR. 方程式等. 問題. 59. f(z) := ∑∞. an(z. )n. を中心をとする巾級数であって,収束半径. |pee| iex| amp| cpq| wmf| lmv| ivj| wrs| fpm| vba| zsr| vpb| xzq| swl| hsr| lnt| hfx| nkh| tqx| jbz| lig| qxv| uwn| ozt| fhd| usw| qqe| bjt| vtc| yrl| jrg| aau| lkg| rao| dzk| fql| icy| ian| zzu| ven| dhk| tso| ryi| qxs| qmz| aas| mfu| xjn| els| emc|