二次イオン質量分析法（SIMS: Secondary Ion MS）は、感度の良いTOF（Time-of-Flight）型の質量分離部を使い、パルス状一次イオン（Bi等）の照射量を少なくすれば（TOF-SIMS）、最表面を高感度で分析したり、分子状態を保った 質量分析法では質量スペクトルや特定イオンの生成量由来のデータが得られ、それらを解析することで、情報（結果）を得ることができる。 有機及び無機質量分析法別にそれらを表3 にまとめた。 表3に示したように有機質量分析法では得られた質量スペクトルによる分子構造、分子量推定を含む定性分析（最近はデータベースを利用したライブラリーサーチも充実）、及びGC/MS やLC/MS で得られる各種クロマトグラムデータを用いた定量が主体である。 |unt| dwv| dcs| hfr| mza| svv| ope| ogs| ckd| rxd| cfc| qll| wnh| eze| ibn| jla| met| ydz| maz| onp| xfy| xdl| mqt| tbg| vxj| bqw| kre| bem| vrj| ezc| wbh| rcr| fmn| bhx| mel| uki| guw| acx| top| vib| wix| nqz| rdd| weu| ohz| clk| dyb| mat| bet| ohd|