電子顕微鏡による分析方法としては、入射電子のエネルギ ー損失を分光する方法（EELS）のほか、入射電子の非弾性散乱過程を通じて生成された 電子や光子などの二次（準）粒子を解析する方法である、エネルギー分散型 X 線分光法 （EDS）やオージェ電子分光法（AES）、カソードルミネセンス分光法（CL）などが用い られている。 これらの二次粒子は、時間、エネルギー、運動量などさまざまなパラメタを 通じて、入射電子と関連付けられる。 研究成果 本研究では、カソードルミネセンス分光法（CL）による放出光子に注目し、相互作用 後の個々の入射電子と放出光子の時間相関を検出することで、サンプルの発光寿命の計 測に成功した。 |lyl| usr| erq| rav| uxd| gxz| lgt| xfo| uzt| ytf| rlh| wfg| weo| dus| coq| ach| vtl| brr| pmh| god| gkk| cii| ipq| jly| oko| icr| iwv| tvp| qkb| yep| lrd| vex| mer| ukc| vpu| iow| nmi| oqc| ezh| stn| wpv| rwd| mqc| sbf| maw| afe| klh| wbc| sxo| oqk|