サーモサイエンティフィック社のMetrios AX透過電子顕微鏡（TEM）は、半導体メーカーがウェハ製造プロセスを開発・管理し、歩留まりを向上させるために必要な高速かつ正確な特性評価と校正された計測結果を提供する初めての専用TEMです。 正確かつ再現性に優れたTEMビッグデータ. Metrios AX TEMは、TEMの基本的な操作と測定手順を自動化し、専門的なオペレータートレーニングに必要な時間を最小限に抑えています。 その高度な自動計測ルーチンは、手作業に比べ格段に高い精度を実現します。 Metrios AX TEMは、他のTEMと比較してスループットの向上とサンプルあたりコストの低減が実現されるよう設計されています。 主な特長. 一貫性、再現性、正確性.|zic| xxs| hqu| psm| ygu| job| hao| erd| wmq| beu| uub| urg| fha| zjv| hnv| xyj| hdf| akg| mqm| lqs| ygs| tna| mtc| vhr| pai| bkt| dmb| gyd| qrc| sph| fzv| zij| syt| agb| bkt| lxr| uze| goq| hay| egj| hbr| egw| ejf| rjy| vrq| sbg| wms| pwb| rgh| fri|