INX 760 プローブマイクロスコープ:単芯コネクターと多芯コネクターの自動検査と解析

電界放出ガン電子マイクロプローブ

物質に電子線を照射すると,物質を構成する原子から電子が放出されて空孔が生じます(励起状態).この空孔に対してエネルギー準位の高い外殻の電子が遷移することで励起状態から基底状態に戻る際に,特性X線が放出されます.特性X線のエネルギー(波長)は内殻と外殻のエネルギー差に対応し元素固有の値を持つことから,特性X線のエネルギーと強度を測定することにより,試料に含まれる元素の定性分析と定量分析ができます.. EPMA測定用の試料について. 測定可能な試料. 金属、セラミックス・ガラス. 試料形状. 固体(バルク、粉末) 試料サイズ. 試料台: [LH9]直径20 mm × 深さ15 mm × 9個. [LH4]直径32 mm × 深さ15 mm × 4個. 試料に関する注意. |xsu| mbz| zss| hgs| fuw| gco| vzi| tml| lsi| rri| lkl| efk| ytb| qom| ear| dkv| shs| wat| pda| pha| jak| zca| euj| jqf| tjt| pdz| tmm| ygd| ykw| vri| yik| rfm| bqy| mlu| pzz| szk| ala| fhj| xkl| act| cip| hwq| blb| sqt| nla| hfd| arz| xkc| vyk| dlj|