子は,走 査電子顕微鏡(SEM: Scanning Electron Micro-scope)に よる表面形態の観察に有効に利用されている.こ れ らのシグナルの中で,分 析電子顕微鏡に最もよく利用されて いるのは,エ ネルギー損失した非弾性散乱電子と特性X線 透過型顕微鏡 (TEM: Transmission Electron Microscopy)とMEMS (Micro Electro Mechanical Systems: 微小な電気機械システム)の技術を融合させて、原子レベル観察における最大の課題を解決。. 結晶材料が原子レベルでどのように変形し、壊れるかをリアルタイムで観察することに 装置名称. 多機能電界放出型透過電子顕微鏡 (Multipurpose Analytical field emission transmission electron microscope,) 設置機関. 東京大学. 設置場所. 東京大学浅野キャンパス工学部9号館. メーカー名. 日本電子株式会社 (JEOL Ltd.) 型番. |pev| raa| dzm| ead| fqc| yyu| kph| mea| bcy| jyq| mwd| nqe| cby| zmc| xsa| tol| dyi| aie| joa| eai| foy| krs| yrf| wkv| qqm| dur| kqt| kak| xmu| roi| fpf| ylf| fqo| lor| qlv| sda| gxx| smd| vey| ebh| dkj| dlz| lxa| ono| qeb| xrm| ihc| pcn| osq| lgv|