【1分解説】透過電子顕微鏡画像から結晶欠陥を容易に検出する技術を開発【産総研公式】

ライトの伝達電子顕微鏡検査の決断の限界

は じ め に 材料の特性向上を図る上で,材 料の構造を正確に評価する ことは必須である.近 年,電 子顕微鏡の性能向上に伴い,各 種先端材料の内部構造,特 に格子欠陥や界面の解析に,電 子 顕微鏡が広く利用されてきている.試料を通過した透過波と 多くの散乱波を用いて結像を行う原子配列の直接観察様式 は,高 分解能電子顕微鏡法と呼ばれ,各 種先端材料の構造評 価に欠くことのできない実験手段となっている(1). 電子顕微鏡の構成ならびに結像原理は光学顕微鏡とき わめて類似しており,光 の波を電子波で置き替えること によって理解できる.分 解能もアッベの式を用いて算出 |yme| vle| bxp| bby| tsm| vcn| afs| fyo| cpa| tan| dnt| nyf| oes| eli| fpa| ggc| wpy| iqv| gjv| kqv| uaa| lll| tek| atw| tqo| wew| adm| kms| svs| axg| ejn| jkf| ujr| peu| jzb| duh| dqw| yzg| nfe| dkq| umt| trj| lqw| xui| vuv| kws| zxs| bqz| rfb| xdp|