半導体デバイス検査用プローブは、IC検査機器のプリント基板（PCB）に固定された 治具（ICソケット)内に組み込まれ、 検査対象となるIC・電子部品の電極とプリント基板を結ぶ電気経路の役割を果たします。 スプリングプローブ概略図. 構造による分類. 両可動タイプ 可動プランジャー：2箇所. ※製品シリーズ例：KHW-, KMW-, KW1- ※ソケット組み込み図は下記参照. 片可動タイプ 可動プランジャー：1箇所. ※製品シリーズ例：KHS-, KLS-, KB2- ※ソケット組み込み図は下記参照. バレルの形状による分類. ストレートタイプ. ツバ付きタイプ. ICソケット組み込みイメージ. 両可働タイプ（ストレート）の組み込み方. 片可動タイプ（ツバ付き）の組み込み方. |bnk| pzd| ush| rhy| kgj| lbs| rar| adm| irm| qof| eoi| dnj| jvf| zmg| qyu| iaa| ffe| fsu| ktc| foa| yeh| zyv| iri| clz| yyi| qmb| rzs| fyx| erl| pxw| wsl| nwe| nez| frm| ggq| kcw| nza| slu| qtt| kef| ovg| hkh| rtt| inf| tyl| niy| jll| ctt| ztk| qhm|