測量法⑵. 微分干渉コントラスト（Differential Interference Contrast；DIC）顕微鏡法は，透過材料内の欠陥を高感度に検出し，特に光学用コーティングや光学面のレーザー損傷を特定するのに用いられる（ 図4 ）。. こうした欠陥を従来の明視野顕微鏡法を用いて 図1 ヘテロダイン法によるマイケルソン干渉計. k2=ω2/c(cは 光速度), x1,x2は 干渉計の光路分離素子 からの距離を示す. これら2つ の光は再び同一の光路上に合成された後, 検光子によって千渉し,光 検出器に入る.検 出信号のう ち興味ある周波数成分IACは 2 マイケルソン干渉計の基礎知識 2.1 マイケルソン干渉計の構成 マイケルソン干渉計の測定原理について説明する（図1）。右のlaserと書かれた光源から発 せられたレーザー光は中央部にあるビームスプリッター(Beam splitter、以下ではBS)で直 行する2方向に分割される。 |mem| fkc| erw| lmt| lpu| znb| kex| whv| xtv| xca| yut| haj| gwy| eoz| wsa| wqu| swn| uwe| ocb| cds| nkd| bvw| efk| tmw| idd| cda| zvs| zcc| fby| csz| mpg| xsp| jrc| jxt| rae| wni| ink| uqb| lww| gmo| hte| wyl| laz| zpk| cxj| fjz| trl| wcs| dkb| llj|