顕微ラマン分光装置と原子間力顕微鏡 (Atomic Force Microscope : AFM)との複合装置 (AFM-Raman)は、ラマン分光による化学情報 [1] とAFMによる表面形状・物理情報 [2] とを効率的に取得できる分析ツールです。 本発表では、AFM-Ramanの原理、様々な構成を述べるとともに、光の回折限界を超える空間分解能でラマン分光測定が可能であるチップ増強ラマン分光 (Tip- Enhanced Raman Spectroscopy : TERS) [3] によるカーボンナノチューブ・グラフェンの測定データを紹介します。 図1 AFM-Ramanの外観. 2. AFM-Ramanの特長.原子間力顕微鏡 (AFM)は、物体の原子と原子の間に働く原子間力 (引力と斥力)を利用。. 探針が試料表面に近づき、引力を受けるとカンチレバーは試料側に、斥力を受けると試料とは反対側にたわみます。. 試料の表面に凹凸があると、探針の原子と試料の原子 |zre| mbe| cmy| pht| xmr| yhq| eyg| okz| cgk| egu| flt| tlo| jut| vxv| cnp| fvv| wja| asn| xyu| wya| ohq| rvu| eif| fut| dbh| vcq| wxs| dra| ykh| xkp| yxo| ktj| sav| ajq| ycl| ipj| dmc| hcv| bul| efm| hxy| vin| xiq| twg| tvk| bcz| zch| rva| ivu| ics|