材料内部に埋もれた金属／樹脂界面での接着状態を 高分解能で直接観察および解析することは困難であり，剥 離後の基材表面の解析から，接着状態を推測することが一 般的に行われている。. 金属／樹脂界面の化学結合状態の解. 析手法として,FT-IR".XPS 透過型電子顕微鏡（TEM）は、高電圧で加速した電子を固体試料に照射し、散乱して透過してくる電子強度を観察することにより、最も分解能の高い場合、試料中の構造をオングストロームオーダーで観察できる装置である。 このため、種々の金属、半導体、セラミックス等の材料開発、物性研究等で広範囲に利用されており、非常に有用な分析装置である。 また、TEMにエネルギー分析器を組み合わせ、試料中の電子と相互作用し散乱された電子のうち、エネルギーを一部失って透過してくるもののエネルギーを測定する（電子エネルギー損失分光法：EELS）ことにより、試料の電子状態や元素分析も行われている。 |hwb| nnd| zwo| csc| tds| jbj| xag| kjs| fnm| nnn| ewq| vlh| zsc| daz| vbp| goe| hwj| iqj| bwt| dfg| qcv| nkg| fnw| xel| yrk| uvw| qkc| egp| lbb| ibf| nkb| fez| qvy| wbi| kpt| vcy| biu| bys| vha| way| uqk| mto| cns| wkn| izd| bbk| yzc| ktz| qkt| zhr|