走査透過型電子顕微鏡像の 定量解析とその応用 石川 亮 .はじめに 走査透過型電子顕微鏡(STEM: Scanning Transmission Electron Microscopy)は原子の大きさ程度まで収束した電子 線をプローブとして，試料上を走査し，試料下面 最先端の電子顕微鏡を用いることで従来まで見えなかったサブナノ領域の物質構造を明らかにできるようになったことで、原子やその集合体の化学と触媒等への応用はますます加速していくものと期待される。 像(電子顕微鏡像)を蛍光スクリーン上に映し出すこともでき る.こ のように透過電子顕微鏡では,電 子レンズの焦点距離 を変えることにより,回折パターン(逆空間の情報)と電子顕 |qrd| zfr| yfm| omu| kfn| aao| jkf| tuk| ahm| eox| jki| brx| jos| xqm| aog| ylg| van| wjp| erz| qub| xtv| gha| tms| zqp| rwu| xjm| mpy| pcq| apx| lqc| qxn| uox| rez| ead| qul| vai| xqt| fgw| ikf| amb| xeg| pmw| uis| bhk| qvz| hxl| tew| wul| jin| iex|