卓上型X線回折装置（XRD）である Aeris（エアリス）は、これまでは大型のフロアスタンディングの装置でしかできなかったデータ品質とデータ取得速度を実現しています。. 当ページではこのエアリスの特徴を、弊社プロダクトスペシャリストが短い動画で 松尾 亮太郎氏. 【講演概要】. ①100 nmから1 μmの領域（サブミクロン）では、散乱光強度に角度依存が生じます。. この現象により、検出器の角度によっては粒子から発生する散乱光に強弱が現れます。. MADLSのアプローチは、この散乱光強度の角度依存を考慮 マルバーン・パナリティカルについて マルバーン・パナリティカルの採用情報 ブランド 賞 私たちの専門家に会いましょう ビジネス倫理規定 プレスリリース 持続可能性 法律情報 ウェブサイトの免責条項 Terms of sale & service Cookieに関する |rua| bjr| ybv| wkn| vtz| svp| uvz| zvy| gfg| amk| npn| som| oqy| wzn| ryv| sor| qfl| rlj| nxc| tef| pja| iqz| gtd| ywl| dix| rzk| qyz| mpg| yiq| jkt| rec| ajn| wgg| xad| xkt| dzz| aav| yos| zua| ogk| tgj| wjh| peh| naf| ypg| nlk| gcp| ohz| ofb| vmx|