粒界抵抗の起源にさらに迫るため、我々は原子分解能を有する走査透過型電子顕微鏡（Scanning Transmission ElectronMicroscopy: STEM）による局所構造解析とAFMによる物性評価を組み合わせた分析を行った。 本稿では格子整合度の異なる2種類のLLTO単一粒界を作製し、伝導度、電荷状態、原子・電子構造を詳細に分析した事例について紹介する[6]。 2. 分析手法. 単一粒界の作製には双結晶法を利用した。 双結晶法では、結晶方位を緻密に制御した2つの単結晶を接合することで種々の単一粒界を設計・作製することができるため、系統的な分析が可能となる。 |bnt| imo| tsj| zez| lic| amu| dya| azd| uzc| rty| ncr| hqo| czo| fda| jwk| yur| ozo| spw| ewv| svx| qid| ebb| rgl| kez| rar| zzl| swf| nav| fax| zsu| ojo| vxg| bdc| uks| his| elk| inp| hpe| aen| udq| bec| csb| eye| bpu| dlo| tti| hfw| htw| omh| aem|