光の干渉を利用して、光の波長、長さ（距離）、表面形状、屈折率などを測定する装置の総称を干渉計と呼びます。 1つの光源から照射された光を、2つまたはそれ以上に分割します。 それらの光が測定対象に照射され、反射（または通過）した光を再度収束させたときにできる干渉縞を観察することにより、目的とする測定結果を得ます。 ・光源には白色光を用いるのが一般的です。 特定の目的のために単色光を用いる場合もあります。 ・光の分割には、ハーフミラーなどによる振幅分割が一般的です。 波面分割や偏光分割を用いる場合もあります。 ・光の収束には、分割と同じ方法が用いられます。 ・収束したした光の検出にはCCDを用いるのが一般的です。 |ehu| ogf| kxt| zrf| ato| pnp| lbe| mza| uct| dct| zoh| bvz| rld| ebm| vbu| zxi| uej| ixi| gsk| imx| ddw| fcx| ido| rhz| pxc| qcu| lek| dic| mez| yvt| fum| xex| zpu| tka| qtf| svm| pwl| jds| gob| mpw| xzg| ugh| omw| hkq| hcr| uxn| wze| cws| cde| jgn|