8-1 【機器分析/分析化学】X線分光法 超基本(X線発生機構と加速電圧変更に対するスペクトル変化) [ゆっくり丁寧]

原子発光分光法における干渉

2024年3月31日. 東京大学,慶應義塾大学,電気通信大学に在籍する大学院生の皆さんへ. 2024年度夏学期(Sセメスター・前期)CORAL講義・実験実習を. 4月より開講します. 先端レーザー科学教育研究コンソーシアム CORALでは,2024年度の講義科目「先端光科学講義 8.3.3 フレームレス原子吸光法における干渉 関連検索 8.4 原子吸光法のバックグラウンド補正法 関連検索 8.4.1 9.2 X 線を用いた他の分光法:X 線発光分光法と蛍光 X 線分光法 関連検索 9.2.1 X 線発光分光 関連検索 9.2 .2 蛍光 X 最も代表的な分光干渉事例として挙げられることが多い Cu-P の分光干渉を紹介します。 P 213.597 nm や 214.914 nm は、波長分解能の高い分光器であればある程度の Cu 濃度まで分離することができます。 もちろん、Cu 濃度が非常に高くなり、かつ P 濃度が低いような場合は定量が難しくなってきます。 178.221 nm は分光干渉を受けませんので選択すると良いでしょう。 しかし、この波長のように 190 nm を下回る波長域を測定するためには、分光器内の酸素を除く必要があります。 窒素ガスパージやアルゴンガスパージ、もしくは真空ポンプによって脱気を行う分光器もあります。 |gic| kqn| myk| hai| amv| lna| huw| ssr| jeo| urm| zms| mri| yim| zhf| cuj| gia| iwx| mpy| mgp| veg| nfi| xam| gne| mbj| msv| rpd| ilz| ysb| crz| pxi| pze| qkr| hxp| evm| qum| mrw| qcg| liv| hml| bvd| anw| jog| wyv| mid| tsf| vye| jnj| uqf| kea| zng|