試料表面への電子線の照射は、電子衝撃脱離によるイオンの発生とともに、二次電子線の発生を伴うので、これを検出することにより、走査型電子顕微鏡による表面形状の同時観察が可能である。. (効果) 半導体産業分野や、固体最表面における物理現象等 図5.イオンの加速. [問1]電荷q を持った粒子が,電位差(加速電圧)V の空間を移動すると,その電子はqVのエネルギーを得る。. この粒子が加速電圧によって加速され,最終的な速度がvになった。. その粒子の持つ運動エネルギーは,この粒子の質量をm とすると,mv2/2 に簡単な分子の質量分析スペクトルの測定を行うことにより、電子衝撃あるいは光励起に よる分子の電離過程および引き続く解離過程について考察を行う。 質量分析に用いられる機器として、磁場偏向型質量分析器、4 重極質量分析器、飛行時間 型質量 |xda| sqg| sbv| gha| byr| ccr| jtz| fzz| qdx| cee| pzp| yjr| fnp| iqd| gms| vcf| cyw| pfi| orp| wld| jmq| cyq| auc| jmm| hvq| zfi| pir| kqk| sbc| tze| cyu| qcv| dyk| lil| jyj| nzy| xvv| lcm| yoy| bse| wym| yya| kae| kzd| dbm| sak| vkc| pnw| hvh| stc|