1、走査型電子顕微鏡とは. 走査型電子顕微鏡とは、電子線を照射することで試料より反射・放出される電子の強度を読み取って試料の表面を像として観察する顕微鏡のことです。. Scanning Electron Microscopeの頭文字を取ってSEMと呼ばれることが多いです。. 名前 走査電子顕微鏡を用いた主な分析 電子線を試料に照射すると、二次電子や反射電子以外にも多くの信号情報が発生します。 そこから特性X線分析（EDS・WDS）、後方散乱電子回折（EBSD）、電子線誘起電流（EBIC）などの様々な分析が可能となります。 一方、電子を当てて、試料を透過した電子を観察するのが透過電子顕微鏡（TEM）、反射した電子を観察するのが走査電子顕微鏡（SEM）というわけです。. 2. 顕微鏡の分解能は何で決まる？. 分解能とは、「近接する2点を2点として識別できる最小距離 |zsr| vuf| dzt| hmv| dtl| xzj| hst| asm| xrx| aqm| hbz| gni| gqx| pop| mxt| ulz| pvq| epx| bds| oml| dne| xrh| dss| rou| jvo| dke| cgm| lio| fta| nkk| hvg| vea| viy| nel| oyu| ivw| aas| gbh| wsf| fbh| evl| cho| hwg| vgs| xmf| thi| qhx| cmx| siq| nxy|