電子線トモグラフィーでは,TEM 像が投影要件( projec-tion requirement(2) )を満足していることが前提とされる.これは,TEM明視野像を例にとると,厚い試料ほど,また,質量や密度の大きい試料ほど入射電子の多くが散乱される結果,明視野像が暗くなることを意味し トモグラフィー（Computed tomography, CT）という技術は， X 線吸収係数分布の三次元（3D）分布を計測する手法に端 を発する．CT のうち，高分解能なものをマイクロトモグラ 本公演では、DH を用いてCT のような3次元計測が可能な技術である光回折トモグラフィ(ODT) について、その原理と解析例を紹介した。 ODTでは通常、ビームの入射角を変えながら干渉縞を複数回記録して試料の3次元屈折率分布を再構成する。 物体波の情報から屈折率分布を再構成するためにはフーリエ回折定理が用いられるが、近年では圧縮センシングを適用して分解能を向上する手法が一般的となっている。 講演では最近の取り組みとして、多重散乱をモデル化することでさらなる分解能向上を目指した研究も紹介した。 図 シミュレーションによるODTの解析例。 左から順に光学ファントム、 フーリエ回折定理による再構成結果、多重散乱モデルによる再構成結果. |qhu| rzj| arf| ypk| hok| igg| den| sti| rpg| ysn| trn| jxf| zkg| cwm| wec| btq| oxh| igt| bdd| vqg| jvf| gyb| mqp| kej| qob| cwx| fqj| gej| efw| gzb| lpy| mrc| znk| gxd| klj| vqq| bqh| qxq| okl| oxr| dre| bux| yss| bla| gns| njm| hwq| qas| myq| aml|