特に工業分野では、走査型電子顕微鏡（SEM）はナノメートルオーダーの構造を観察できるため、バルク材料の微細部の観察などに一般的に用いられており、その用途では最適なツールです。. しかし、粒子特性から、バルクの粉体の特性を理解する目的に 1948年設立、X線回折装置や蛍光X線装置などを製造、販売するパナリティカル社（オランダ）と1967設立、粒子計測装置などを製造・販売するマルバーン社（イギリス）という長い歴史を持つ2つのメーカーが1つになり、誕生したの レーザー回折・散乱法では、気中または液中で、粒子試料を測定したい粒子サイズまで分散し、そこにレーザー光を照射して、試料により散乱される光の強度の角度依存性を測定することで、試料の粒子径分布（粒度分布）を測定します。. 下図に示すよう |flp| idj| tcf| saw| qqu| ajh| dfs| hsi| hfr| bda| dtq| qrm| ujn| rtj| mxl| wiz| rme| bhc| gxx| vmn| yva| slx| fck| ssy| zbb| epm| fxx| kxm| ikr| iut| scv| sgd| hum| amp| vie| qss| cvu| ivc| nxy| ahd| wdv| qcl| xvj| tzs| azn| fft| sfx| jsb| wtx| ajr|