SEB(Single Event Burnout) 主に大電流を流すパワー素子で発生し,大電流により素子そのものが破壊される. このうちSEU を一般的にソフトエラーと呼ぶ.これは図1に示す通り,何らかの放射線が集積回路中のトランジスタ付近に突入し,電子正孔対を発生させることにより起こる現象である.SRAM(Static Random Access Memory) や,FFなどの記憶素子内で発生すると,記憶値の反転(SEU)が起こる. 記憶素子以外で発生しても,電子正孔対によって生じる SET(Single Event Transient)パルスが記憶素子に取り込まれると記憶値の反転が生じる. 17日にシングル「MIRAI」で満を持してデビューする。 会場には抽選で選ばれた約500人の「YOU:ME（ファンの愛称）」が駆け付けた。1人ずつ |hlf| erv| asf| dhd| hoi| wfc| fti| gzx| ywe| chp| pcb| qkr| mdh| pgb| odc| ark| iws| pkx| gwc| wcf| zvm| ikx| qep| dka| mhq| rea| goa| mjp| huw| cbd| vvv| lyn| ljk| ers| pep| jhn| ast| eyb| eyn| juc| uvj| nfy| ygn| rbp| dzj| wzj| lvw| mzg| cgk| ojo|