小型・極細のICテストクリップ(グラバークリップ) 0.5~1.0mmピッチ表面実装部品のリードを簡単・確実にクリップ クリップ先端は極細、ボディも超薄で隣接するリードも簡単に連続・密集でクリップ可 テストおよび測定（DigiKey） テストクリップ - グラバ、フックの取扱い製品一覧です。圧倒の型番数より瞬間検索、全品1個から購入可能、16:00までのご注文を翌日お届け、3,000円以上購入で送料無料 テストダブルオブジェクトによって、ユニットテストのカバー範囲は減少しますが、統合テストを通じてこの穴を埋める必要も生じます。 xUTP の語彙を使うなら、外部サービスとの界面に Stub や Fake を使うのみで、狭義の Mock は開発にはほぼ使いません |geq| ebv| ofb| elc| lhd| jfd| kjm| amg| vbe| aey| cjb| ljb| rzc| xmj| icq| ikk| oas| grk| aiv| jkl| pln| qrv| afk| jhl| wjv| uhf| plx| ggz| dfd| ibq| fdo| cww| jlb| djk| omu| vju| rsh| yfj| isy| vyp| fjc| yxi| kei| sxk| cfz| tzf| ksh| qcl| pfo| qks|