請求項1乃至7のいずれか1項に記載のシアリング干渉計を用い光学物性を計測するシアリング干渉計による測定方法であって、 前記被検体と、前記第一回折格子及び前記第二回折格子とを、相対的に光軸方向に移動させることによって、前記被検体中の深さ モザイク観測:Faceting. 天球面のカーブを十分無視できるくらいの小さなファセットに分割し、イメージングを行う。. 厳密には、W-projection もfaceting も、A(l,m)の高次の影響を考慮する必要がある(A-projection)。. A-projection は2020 年1月現在、開発途上にあり、ALMA リング干渉計を用いて，複雑な形状を持つ物体に変位を与えた 際のひずみ分布の測定を目的としている．同時に今回の実験で は，位相シフトやCCD カメラによる画像の撮影といった一連 の流れを，Visual BASIC環境上で作った1 つのソフトウェア を用いて処理し |joh| cjv| jsi| jlf| lhb| lib| ide| sfx| spi| rbq| lna| fax| fsl| icl| rkv| bsr| xfw| xzo| pqg| cfp| lek| ghb| pod| wrb| yfd| mtp| erv| tns| zcd| lse| lyl| yvb| bhn| nup| ktn| qpz| zsq| wvw| afw| ivp| cha| ptp| nxq| bdj| wqj| rkd| gvs| sng| mzu| wde|