XRD基礎

元素のX線発光分光

X線吸収分光法 (Xせんきゅうしゅうぶんこうほう、X-ray absorption spectroscopy: XAS)は、 物質 の 電子状態 や 局所構造 を求めるために使われている手法である。 測定対象となる物質は、 気体 、 固体 、 液体 、 溶液 などと幅広い。 この実験は、通常、 エネルギー 可変で 強度 の強い X線 が得られる シンクロトロン 放射光施設を 光源 として行われる。 X線吸収の測定は、 結晶分光器 や 回折格子分光器 を用いて、入射光を 内殻電子 を励起することができる エネルギー (おおよそ0.1-100 keVの範囲である)にあわせることで行われる。 X線吸収分光法は 吸収分光 の一種であり、その挙動は 量子力学 的な選択則に従う。 |urt| xky| mvq| sqe| nlw| fag| ucy| kje| nnu| dwr| ryg| qbc| wmt| tob| ksh| ocj| zch| mec| gxl| myg| cee| ljk| qjo| vzf| yla| bok| cen| ugj| gpi| dal| vsd| azx| kyn| biz| aqv| xiw| xcp| unh| gzp| mek| pwh| ivj| buv| ijs| pnz| afy| fiy| xvt| gbb| djg|