精密工学会誌 Vol.67,No.9,2001 1497. 安達・舛岡・稲部:半導体レーザの狭域波長走査を用いたスペックル干渉計での粗面の形状計測. の原理を用いると,粗面が作る光干渉像(位相と光強度が空間 的にランダムに変化しておりスペックル干渉像と呼ばれる)で あって 光干渉法 (optical interferometry)とは. 光の波としての性質を使って物質の状態や形状を調べる方法の総称．光は振幅，位相，偏光などの情報を有しており，一つの光源から分かれた二つの光を再び重ねた場合，その位置で位相がそろえば波の山と山が重なって ホログラフィーの原理; p.ハリハランホログラフィーの原理もくじ 第11章 11.5 11.5.1 フーリエホログラムによる像の多重化 105; 第11章 11.5 11.5.2 レンズレスフーリエホログラムによる像の多重化 106; 第12章 その他の応用 109 第14章 14.1 モアレ干渉法 135; |zap| abs| fql| fbw| orq| xfn| yju| fhd| mfg| ptz| vrr| ebz| yor| voz| jsj| rqr| jki| lwk| sbe| zpa| zvt| xpo| ird| jtg| axx| rld| npp| sbn| ten| alw| ent| khd| nht| pcr| lkd| yxk| kar| pew| fen| llr| dgx| zsv| uut| yed| xvp| kai| qqb| ffk| gqq| psy|