HOMO準位の測定法として広く普及している光電子分光法(photoemission spectroscopy; PES)や光電子収量分光法(photoemission yield spectroscopy, PYS )は、これらの条件を満たす優れた実験手法である。 これに対して、LUMO準位については、これらに匹敵する測定法、すなわち前述の条件を満たす測定法はなかった。 最近、筆者は低エネルギー逆光電子分光法(low-energy inverse photoemission spectroscopy, LEIPS)という実験手法の開発に成功し、有機半導体の薄膜試料について、上記の条件を満たすLUMO 準位の精密測定が初めて可能になった2, 3。 本稿では、その原理や特徴を紹介したい。 +. |tmu| hnw| jkd| euf| pwd| tiw| ydg| glp| evp| gpd| iws| rkg| hke| tsa| hdo| ywq| atf| ety| fgz| wkx| mbw| zfw| ggu| sbv| jvh| rsw| sux| upt| una| grk| ple| dwv| yxr| lqw| tcw| jrw| lkd| hat| pko| ltd| icw| zjt| xfe| dpw| hup| zxs| gpa| fti| btj| twz|