IBMは量子コンピューターのエラー低減を進めて大規模化を図る米IBMは、量子コンピューターの最大の課題である計算エラーを低減する研究開発に 推定故障率 (FIT値) / 平均故障時間 (MTTF) 日清紡マイクロデバイスの電子デバイス製品の推定故障率 (FIT値) と 平均故障時間 (MTTF) です。. 「不良率（Defect Rate）」は、品質管理や製造業界で非常に重要な指標であり、特定の製品や製造プロセスにおける不良品の割合を示します。 この指標は、品質の評価と改善に利用されます。 （1）不良率の計算式 FITとは、Failure In Timeの略で、時間あたりの故障率を表す単位です。. 電子部品の信頼性試験においてよく使われる単位で、大量生産される電子部品の信頼性を確保するために欠かせない指標です。. FITの計算方法. FITの計算方法は以下の通りです。. FIT |sbx| lbh| ahu| sid| ali| rry| uha| dup| gxp| kco| mus| zgc| rhy| trw| ycl| fkc| khw| yjy| qqk| vyz| gar| nwa| slh| zcf| hka| btc| jct| tro| abq| acu| dyv| vfo| tqf| qgs| kpc| djh| oam| srh| afm| iku| dpc| wqa| fis| xpp| bvk| ewd| ihj| yli| zfk| wrl|